Schuh WeißSwitzerland Adidas Superstar Superstar Adidas Schuh WeißSwitzerland VpMqSUzG
Zu SandalenBis Outdoor Teva Teva −20ReduziertStylight WD2IEH9Y
Erima Tight Hose Erima Damen Damen Verona Tight Hose Verona R4ALq53j
  • Recent News
Schnittmuster Landlust Shop Gartenhose Schnittmuster Gartenhose Landlust xeCorBd
X Adidas Black Offiziell Frauen Schuhe Topshop Attitude M Schuh OZwkXuTPi
Sie sind hier: Startseite > Produkte > Weitere Anwendungsbereiche & Inspektion von optischen Medien > Inspektion von optischen Medien > Reproduktion 
Zu Weiß Details Schuhe Superstar Adidas Originals Neu Turnschuhe Sneaker Hellgrün Bounce wnk0OX8P

Reproduktion

Dr. Schenk bietet vielseitige In-line- und Off-line-Inspektionslösungen für optische Discs zur Bewältigung aller Herausforderungen der Industrie für die Reproduktion optischer Discs.

In-line Inspektionssysteme, die vollständig in Reproduktionslinien integriert sind, erkennen lokale Fehler und Abweichungen und messen die physikalischen Eigenschaften von optischen Medien sämtlicher Formate, darunter auch Discs mit hoher Speicherdichte wie Blu-ray und HD-DVD. Dr. Schenk bleibt dank der innovativen Lösungen für neue Medien, die jede Phase des Herstellungsprozesses abdecken, auch weiterhin an führender Stelle im Bereich der Inspektion optischer Discs.

Off-line Mess- und Prozesskontrollsysteme prüfen die Gleichmäßigkeit der mechanischen und optischen Eigenschaften aller bestehenden und noch folgenden Disc-Formate mit hoher Speicherdichte. Mit mehr als 1000 Installationen weltweit gelten die Lösungen von Dr. Schenk als Standardsysteme für die Off-Line Qualitätssicherung und Prozesskontrolle in der Industrie für optische Medien.


Dr. Schenk Lösungen für Reproduktion


Weitere Informationen erhalten Sie von Dr. Schenk

 

Communion Girls Flowers First Toe Satin Open Shoes CtshQrd
Kontaktieren Sie uns
Sign up today: 3 Day Training Course Dates for 2019 fixed

Become an inspection expert with Dr. Schenk![mehr]


Communion Girls Flowers First Toe Satin Open Shoes CtshQrd
MIDA – Superior Defect Detection and Classification

Dr. Schenk's "Multiplex Technology" is the basis for MIDA - Multiple Image Defect Analysis. One...[mehr]


Letzte Änderung: Donnerstag, 20.12.2018
Support | Kontakt | Copyright & Impressum | Datenschutz | Sitemap