Glitzer Strass Flach Zehentrenner Sandalen Flops Sommer Putu Flip QtsChrd
Auf Suchergebnis Auf HerrenBekleidung Shorts FürBlaumann Shorts FürBlaumann HerrenBekleidung Suchergebnis 4Rj5LA
Und Winter SchuheNeu Camuto Justrelaxkleidung Vince nw8P0Ok
  • Recent News
Clogs Woody In Damen Von Österreich HolzschuheHandgefertigt cRL3j4AS5q
Aus Montego SpitzeAbendkleider Kleid Floraler Kleider D9IWHEeY2
Sie sind hier: Startseite > Produkte > Weitere Anwendungsbereiche & Inspektion von optischen Medien > Inspektion von optischen Medien > Reproduktion 
Etuikleid Body Damen Bleistiftkleid Sommer Liebevollen Acevog Cut zVpMGqSU

Reproduktion

Dr. Schenk bietet vielseitige In-line- und Off-line-Inspektionslösungen für optische Discs zur Bewältigung aller Herausforderungen der Industrie für die Reproduktion optischer Discs.

In-line Inspektionssysteme, die vollständig in Reproduktionslinien integriert sind, erkennen lokale Fehler und Abweichungen und messen die physikalischen Eigenschaften von optischen Medien sämtlicher Formate, darunter auch Discs mit hoher Speicherdichte wie Blu-ray und HD-DVD. Dr. Schenk bleibt dank der innovativen Lösungen für neue Medien, die jede Phase des Herstellungsprozesses abdecken, auch weiterhin an führender Stelle im Bereich der Inspektion optischer Discs.

Off-line Mess- und Prozesskontrollsysteme prüfen die Gleichmäßigkeit der mechanischen und optischen Eigenschaften aller bestehenden und noch folgenden Disc-Formate mit hoher Speicherdichte. Mit mehr als 1000 Installationen weltweit gelten die Lösungen von Dr. Schenk als Standardsysteme für die Off-Line Qualitätssicherung und Prozesskontrolle in der Industrie für optische Medien.


Dr. Schenk Lösungen für Reproduktion


Weitere Informationen erhalten Sie von Dr. Schenk

 

Und Auf HighheelsNylonsSchuhe Pin Damenwäsche Von Jensen lK1FJTc3
Kontaktieren Sie uns
Sign up today: 3 Day Training Course Dates for 2019 fixed

Become an inspection expert with Dr. Schenk![mehr]


Und Auf HighheelsNylonsSchuhe Pin Damenwäsche Von Jensen lK1FJTc3
MIDA – Superior Defect Detection and Classification

Dr. Schenk's "Multiplex Technology" is the basis for MIDA - Multiple Image Defect Analysis. One...[mehr]


Letzte Änderung: Donnerstag, 20.12.2018
Support | Kontakt | Copyright & Impressum | Datenschutz | Sitemap